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簡要描述：LDJD-C高頻介電常數(shù)儀原理：介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質；通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。
產(chǎn)品型號：LDJD-C廠商性質：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-06-11訪 問 量：2163產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,建材/家具,電子/電池 |
LDJD-C高頻介電常數(shù)儀介紹：
介電常數(shù)測試儀采用高頻諧振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗測試。
它以單片機控制儀器，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標準頻率測試點自動設定、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉換、數(shù)值顯示等新技術，改進了調諧回路；
使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量時更為精確。
儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量；
電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
高頻介電常數(shù)儀參數(shù)：
LDJD-A型介電常數(shù)及介質損耗測試儀 信號源頻率覆蓋范圍10kHz～70MHz；主電容調節(jié)范圍：30～550pF；
LDJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀信號源頻率覆蓋范圍10kHz～110MHz，主電容調節(jié)范圍：30～540pF；
LDJD-C型介電常數(shù)及介質損耗測試儀信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz，主電容調節(jié)范圍： 17～240pF（一體鍍銀成型，精度高）；帶步進馬達，電容自動搜索
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